信息存儲應用技術
  • 一種存儲器集成測試裝置的制作方法
    本發明涉及半導體存儲類産品性能測試系統,具體涉及一種存儲器集成測試裝置。近年來,在半導體存儲器中,存儲器的發展尤爲迅速。由于存儲器是一種非易失性存儲器,對于所有的半導體存儲類産品,需要對存儲類産品進行性能的可靠性測試,例如高低溫環境下的老化測試模擬在高溫或低溫的環境下,通過輔助控制...
  • 電阻式存儲器件及其操作方法與流程
    本申請要求2018年3月9日提交的申請號爲10-2018-0027910的韓國專利申請的優先權,其公開內容通過引用整體合並于此。本公開的實施例涉及一種半導體設計技術,更具體地,涉及一種電阻式存儲器件和用于操作電阻式存儲器件的方法。響應于半導體存儲器件的高容量和低功耗的需求,研究人員...
  • 用于在自定時存儲器中進行自適應讀寫操作的方法和電路與流程
    本公開涉及靜態隨機存取存儲器(SRAM)領域,並且具體地涉及用于通過跟蹤SRAM陣列的SRAM單元的通過門的柵極電壓來改善SRAM陣列的讀取或寫入周期時間的虛設SRAM列,上述跟蹤是通過欠驅動虛設SRAM列的虛設SRAM單元的通過門的柵極電壓而實現的。半導體存儲器是用于數據存儲和程序執行的...